激光粒度仪

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	颗粒图像分析仪 Rise-3002	Rise-3002 型颗粒图像分析仪由光学显微镜（放大倍数最大 1600 倍）、CCD 摄像机和图像采集卡组成，并需连接计算机和打印机使用。该系统将传统的显微测量方法与现代化的电子技术、图像处理技术相结合，使用专用摄像机将显微镜放大的颗粒图像拍摄下来，通过图像采集卡将图像传输到电脑中，计算机自动地对颗粒的形貌特征进行分析，能直观、准确的观察被测颗粒的形貌，并可打印出颗粒直观图形。
	激光粒度分析仪 Rise-2008	Rise-2008 激光粒度分析仪工作原理全量程米氏散射理论　 Rise-2008型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑了分散介质和被测颗粒的折射率，结合专利的测量装置，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化来反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。无约束自由反演模糊计算　颗粒测试的计算一般分为有约束拟合反演和无约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演是在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布，这种方法过程简单，由于先前的假设与样品实际分布肯定存在偏差，所以计算得出的粒度分布数据肯定与实际情况产生较大的误差。无约束拟合反演，即测试前对颗粒群不做任何假设，
	激光粒度分析仪 Rise-2006	工作原理全量程米氏散射理论　Rise-2006 型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑了分散介质和被测颗粒的折射率，结合专利的测量装置，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化来反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。无约束自由反演模糊计算　颗粒测试的计算一般分为有约束拟合反演和无约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演是在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布，这种方法过程简单，由于先前的假设与样品实际分布肯定存在偏差，所以计算得出的粒度分布数据肯定与实际情况产生较大的误差。无约束拟合反演，即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接计算出颗粒群的粒度分布
	激光粒度分析仪 Rise-2002	技术特点：1 、光源　Rise-2002型激光粒度分析仪采用He-Ne激光气体光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好。激光电源及激光管的使用寿命大于15000小时。2 、探测器　仪器光电检测系统采用高灵敏度的探测器，一个主探测器，多个辅助探测器，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到90°。3 、光路　采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。4 、分散循环　　大多数超细颗粒易团聚，超声外置分散系统在样品测试过程中很容易因颗粒团聚而造成很大偏差，内置100W大功率超声空化分散系统，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试同时

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